高纯锗谱仪

产品概述

高纯锗谱仪是一款实验室高纯锗γ 能谱测量系统，配备高纯度高品质锗晶体、更先进的前置放大器、辐射屏蔽性能更高的低本底铅室、稳定性更好的数字多道分析器以及低温冷却系统，从而获得更好的能量分辨率和更低的环境干扰。 配套功能齐全的γ 能谱分析软件，可以更准确的测量和分析样品的放射性特性。

应用领域

该产品用于核电、低放射性水平样品（环境样品、生物样品、食品）放射性含量测量、检验检疫、生物医学、天体物理与化学、地质、法学、考古学、冶金和材料科学等诸多科学与社会领域。

功能特点

1. 高纯锗探测器：可选配P型同轴探测器、P型宽能型同轴探测器（探测效率从10%到160%可选），井型探测器、平板型探测器（探测效率从15%到60%可选）等，低仪器背景干扰、出色的峰对称性和高分辨率；

2. 低本底铅室：铅室本底计数率＜2cps（50keV~2MeV，50%探测效率），铅室采用顶部平移开门方式；

3. 数字化多道：可选配16k、32k；

4. γ 能谱分析软件：全中文操作界面与操作手册，集谱控制、获取、分析、分析报告、质量控制和审计追踪功能于一体，内置可编辑核素库，可以自动或手动进行能谱分析，实现核素识别、活度计算功能；

5. 无源效率刻度软件：提供高速创建几何条件和错误识别功能，在没有标准源的情况下能对点状、柱状、面状和马林杯样品进行效率刻度，计算精度≤3%；

6. 制冷系统：可选配液氮制冷或液氮回凝制冷装置；

7. 激光三维扫描建模：基于激光三维扫描仪，可进行激光三维扫描建模，并将建模结果导入无源效率刻度软件进行效率刻度。

系统配置

高纯锗探测器、铅室、数字化多道、γ 能谱分析软件、无源效率刻度软件、制冷系统、激光三维扫描仪（选配）。

技术参数